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美國(guó)GE USM 32X系列 超聲波探傷儀* USM 32X B和USM 32X L:外形小巧,功能*功能性符合人體工程學(xué)原理您的日常應(yīng)用的解決方案
USM Vision超聲波探傷儀上海總代理 USM Vision提供了管道焊縫檢測(cè)優(yōu)化解決方案,操作簡(jiǎn)單,符合各種檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)要求,并消除了由于使用傳統(tǒng)射線檢測(cè)所帶來(lái)的各種限制。
美國(guó)GE 超聲波探傷儀 USM Go專業(yè)*代理 將GE多年的超聲經(jīng)驗(yàn)和專家級(jí)技術(shù)融合到一臺(tái)便攜式探傷儀中。USM Go是GE傳感檢測(cè)科技集團(tuán)生產(chǎn)的Z輕巧便攜的超聲探傷儀。在油氣、航天、電力、以及汽車行業(yè)各種苛刻的檢測(cè)環(huán)境下,USM Go的設(shè)計(jì)使得操作更為簡(jiǎn)便,即使是長(zhǎng)時(shí)間操作也能輕松完成。USM Go可加裝測(cè)厚儀選項(xiàng),具有DMS Go測(cè)厚儀的功能。
美國(guó)GE科技- DM5E壁厚測(cè)厚儀 DM5E系列壁厚測(cè)厚儀是一種智能的,易于使用的超聲波測(cè)厚儀,可在小巧的包裝中提供超大的超聲波性能。 緊湊的尺寸和符合人體工程學(xué)的外形提供舒適的單手使用。現(xiàn)已針對(duì) DM5E 系列開發(fā)出一套新型的超聲波探頭,使儀器即使在*的溫度下工作也具有Z佳的性能。外殼堅(jiān)固,設(shè)計(jì)科學(xué),操作方便。
KK探傷儀 USN 60/60L設(shè)計(jì)優(yōu)化 GE檢測(cè)科技總部位于美國(guó)麻薩諸塞州Billerica,在世界25個(gè)擁有1300多名員工,在北美、歐洲和亞洲分布著9個(gè)應(yīng)用中心。GE檢測(cè)科技大中國(guó)區(qū)總部位于上海,在北京和成都設(shè)有分支機(jī)構(gòu),并通過(guò)各地的代理和經(jīng)銷網(wǎng)絡(luò),及時(shí)為各行業(yè)的客戶提供檢測(cè)設(shè)備和系統(tǒng)解決方案,包括售前咨詢到售后維修、校準(zhǔn)、培訓(xùn)和升級(jí)等一系列服務(wù)。
Krautkramer 原產(chǎn)供應(yīng)USM 32X超聲波探傷儀 GE USM 32X系列超聲波探傷儀是一款性能優(yōu)異的小型箱體。 它有兩個(gè)版本:USM 32x B和USM 32X L. USM 32X B用于所有標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用,USM 32X L用于緊湊大件作品或高音質(zhì)衰減材料。 它具有兩個(gè)旋鈕,一個(gè)大型彩色LCD,并可直接訪問(wèn)所有功能。 它只使用14個(gè)鍵,一個(gè)菜單行,它可以支持多達(dá)20種不同的語(yǔ)言。
德國(guó)KK USN 60超聲波探傷儀 上海總代理: USN60超聲波探傷儀既有數(shù)字設(shè)計(jì)的眾多優(yōu)點(diǎn),又兼具以前只有在模擬CRT顯示中才能獲得的詳細(xì)動(dòng)態(tài)回波信息。
DynaPOCKET迷你型硬度計(jì) 美國(guó)GE檢測(cè)技術(shù)dynapocket便攜式硬度計(jì)將沖擊裝置和顯示評(píng)價(jià)單元合為一體的儀器。這意味著:小尺寸,低重量,沒有電纜。在測(cè)量過(guò)程中,不受測(cè)量地點(diǎn),位置限制,便于攜帶,操作,數(shù)據(jù)準(zhǔn)確率高,是測(cè)量硬度的。
美國(guó)GE DynaMIC* DynaMIC根據(jù)回彈法進(jìn)行操作,回彈法是指沖擊物由于彈力撞擊檢測(cè)表面。硬度值由沖擊物沖擊前與從試件回彈后的速度比計(jì)算得出。為了改善已確定的檢測(cè)法,DynaMIC采用了一種獲得的創(chuàng)新型的信號(hào)處理技術(shù),測(cè)量半徑小的沖擊物時(shí),該技術(shù)能夠自動(dòng)補(bǔ)償檢測(cè)方向上的變化和產(chǎn)生的距離變化。
CL5 超聲波測(cè)厚儀* CL5適用于各種工業(yè),尤其在汽車和航空工業(yè)中作為質(zhì)量控制和生產(chǎn)測(cè)量的工具。它可用于鋼卷等新型材料厚度的抽樣檢查。可通過(guò)中期或Z終厚度測(cè)量對(duì)加工操作進(jìn)行監(jiān)控,還可用于精密測(cè)量塑料元件的厚度。同使用范圍廣泛的接觸探頭和延遲線探頭兼容,當(dāng)使用延遲線探頭對(duì)超薄元件進(jìn)行測(cè)量時(shí),其延遲自動(dòng)測(cè)量模式從*個(gè)反射回波和多重回波測(cè)量之間進(jìn)行切換。
