菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDL230測厚儀

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL230核心特性與技術參數

以下是XDL230的主要技術規格匯總：

特性類別具體參數與說明

測量原理能量色散型X射線熒光光譜法（ED-XRF）

測量方式無損檢測，可自動聚焦

元素分析范圍氯（Cl, 17號元素）至鈾（U, 92號元素）

測量能力最多可同時測量24種元素和23層鍍層

X射線源鎢靶X射線管，高壓三檔可調：30kV, 40kV, 50kV

探測器比例接收器

準直器（測量點大小）標準為φ0.3mm圓形，可選φ0.1mm、φ0.2mm及0.3mm x 0.05mm長方形。最小測量點直徑約0.2mm

測量距離0 - 80mm，采用保護的DCM（測量距離補償法），便于測量復雜形狀樣品

樣品定位高分辨率CCD彩色攝像頭（40x-160x放大），激光定位點，LED照明

最大樣品尺寸/重量最大高度140mm，最大重量20kg

工作臺手動X/Y平臺（移動范圍92x150mm），馬達驅動Z軸（移動范圍140mm）

設備重量約107kg

軟件標配WinFTM V.6 LIGHT，可選配BASIC, PDM, SUPER版本

執行標準ISO 3497, ASTM B568

主要功能與特點

高精度與穩定性：設備長期穩定性好，測量精度高。對于厚度≥0.5μm的鍍層，頂層測量精度≤5%。

分析能力：除了測量鍍層厚度，還能分析材料成分和電鍍溶液。其FISCHER基本參數法允許在無標準片的情況下完成測量。

靈活的樣品適應能力：

異形件測量：從上往下的測量方向和DCM技術，使其能輕松分析非平整、復雜形狀的樣品。

大型樣品：機身帶有C型槽開口設計，可以測量比內部測量室更長更寬的樣品，如大型印刷電路板（PCB）。

便捷的操作與觀察：通過高清攝像頭和十字線，可精確定位測量點，并實時觀察測量過程。

數據與統計功能：軟件可自動計算平均值、標準偏差，并能計算CP和Cpk值，超差時自動報警