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SURTRONIC S116泰勒霍普森
泰勒霍普森便攜式粗糙度儀SURTRONIC S116核心技術(shù)參數(shù)
測量性能:垂直量程 200μm,垂直分辨率 5nm;標(biāo)配 5μm 金剛石測針(可選 2μm/10μm),探頭下壓力 150–300mg;取樣長度 0.25mm、0.8mm、2.5mm;支持 ISO/ASME/JIS 標(biāo)準(zhǔn),Ra 測量精度 ±(2% + 0.004μm);配備 2CR/GAUSS 濾波器。
機身與操作:尺寸 150×85×55mm,重量 650g;4.3 英寸可旋轉(zhuǎn)觸摸屏,帶觸覺盲操作按鈕;IP54 防塵防濺,抗沖擊橡膠外殼;內(nèi)置鋰電池,單次充電可完成 2000 次測量;支持 USB2.0 數(shù)據(jù)傳輸;防滑 V 型腳架可穩(wěn)固貼合平面與圓柱面。
附件與拓展:可選深孔 / 小槽 / 直角等專用探頭,可測量 70mm 深孔;支持升降裝置與多種工裝夾具,適配管道、軸類、精密零件等復(fù)雜場景。
