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菲希爾X射線測(cè)厚儀,F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY XDL230,菲希爾XUL220,F(xiàn)ISCHER XULM240。菲希爾FISCHER X射線測(cè)厚儀
菲希爾FISCHER X射線XULM240,基于 X 射線熒光光譜技術(shù),X 射線激發(fā)樣品鍍層產(chǎn)生特征熒光,通過(guò)檢測(cè)熒光強(qiáng)度結(jié)合基本參數(shù)法(FP 法) 計(jì)算鍍層厚度 / 元素成分;全程無(wú)損、無(wú)需破壞樣品。主打微聚焦測(cè)量,特別適合電子接插件、PCB、珠寶鐘表、精密電鍍件等微小結(jié)構(gòu)的檢測(cè)。
菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDL230,菲希爾X射線測(cè)厚儀,Fischer測(cè)厚儀,菲希爾便攜式鍍層測(cè)厚儀,菲希爾臺(tái)式測(cè)厚儀
菲希爾X射線測(cè)厚儀XDL230,菲希爾X射線鍍層測(cè)厚儀,FISCHERSCOPE X-RAY XDL230
菲希爾XDLM237 X射線鍍層測(cè)厚儀,微聚焦全自動(dòng) X 射線熒光鍍層測(cè)厚儀(EDXRF),XDLM 系列頂配自動(dòng)化機(jī)型,M 代表Microfocus 微聚焦光管,主打微小觸點(diǎn)、連接器、PCB 精細(xì)鍍層無(wú)損測(cè)厚 + 合金成分分析,支持大批量全自動(dòng)掃描檢測(cè),測(cè)量光束從上往下垂直照射,適配異形、凸起、腔體零件
菲希爾涂層非接觸X射線測(cè)厚儀 菲希爾涂層非接觸 X 射線測(cè)厚儀基于 X 射線與物質(zhì)的相互作用原理。當(dāng) X 射線照射到被測(cè)物體表面時(shí),一部分 X 射線會(huì)被涂層吸收和散射,另一部分則會(huì)穿透涂層到達(dá)基體。通過(guò)測(cè)量穿透涂層的 X 射線強(qiáng)度,并與已知厚度的標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行對(duì)比,就可以精確計(jì)算出涂層的厚度。
菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDL230測(cè)厚儀,菲希爾XDL230 是德國(guó)Helmut Fischer集團(tuán)旗下的一款能量色散型X射線熒光(ED-XRF)鍍層測(cè)厚及材料分析儀,型號(hào)為FISCHERSCOPE X-RAY XDL230
FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 500是德國(guó)菲希爾公司 (Helmut Fischer GmbH) 研發(fā)的旗艦級(jí)便攜式 X 射線熒光 (XRF) 分析儀,專為涂層厚度精確測(cè)量和材料成分分析設(shè)計(jì),被譽(yù)為 “市場(chǎng)上精確的手持式 XRF 分析儀“。
菲希爾XUL220 X射線測(cè)厚儀,F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY XUL220,菲希爾代理測(cè)厚儀,菲希爾鍍層測(cè)厚儀
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